JD-2003激光測厚儀，JD-2003激光測厚系統
JD-2003激光測厚儀，JD-2003激光測厚系統
JD-2003激光測厚系統在工業生產中的非接觸、在線測量中，對于提高產品的質量、生產效率及**保障等方面均發揮著非常重要的作用。JD-2003激光測厚系統可以完成許多用接觸式測量手段無法完成的檢測任務。經過多年的科技攻關研發出各種測量系統。
JD-2003激光測厚系統在膜厚測量上的應用
JD-2003激光測厚系統的優點：精度高，不受被測物的材料、質地、型狀、反射率的限制。從白色到黑色，從金屬到陶瓷、塑料都可以測量。
激光測厚儀，
JD-2003激光測厚系統技術參數
測量范圍 | <3mm |
分辨率 | 0.001mm |
精度 | ±0.003mm |
光源波長 | 0.65mm |
光針直徑 | ~200mm |
測量速度（曝光時間） | 0.0001秒 |
工作溫度 | 0~40℃ |
激光防護等級 | 3B |
電源電壓 | 220v |
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